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Scanning Electron Microscope(주사전자현미경)
의뢰기기번호
23
위치
모델명
S3000N
제조회사
Hitachi LTD
원리   전자가 표본을 통과하는 것이 아니라 정확한 초점의 전자선을 표본의 포면에 주사하여 시료로
  부터 튀어나온 2차전자를 모아서 검출한 후 과정을 거쳐 CRT에 3차원 이미지로 영상화하는
  전자현미경이다.
사양 및 성능   해상력 : 3.5nm(고진공), 5.0nm(저진공)
  가속전압 : 0.3 - 30KV(1,171steps), 배율 : X15 - X300,000 Digital Image Analysis System
활용분야
시료사양
  조직 및 물질의 표면구조 관찰 및 비파괴 화학분석, 금속, 세라믹, 고분자 재료표면 및 동식물,
  미생물 미세표면구조의 관찰. 시료의 사양은 담당자와 상의한다.
이용수가  
분석의뢰수가