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Transmittance Electron Microscope(TEM)(투과식 전자현미경)
의뢰기기번호
26
위치
모델명
JEM 1010
제조회사
Jeol
원리   높은 진공상태에서 고속으로 가속된 전자선이 시료를 투과하여 일련이 전기자기장 또는 정전
  기장을 거쳐 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사된 것을 관찰할 수 있는 장비이다.
사양 및 성능   Resolution : 0.3nm
  Accelerating voltage : 40 - 100KV(25steps)
  Magnification : X800 - X600,000 Image analysis system
활용분야
시료사양
  세포 및 조직의 미세한 구조를 관찰. 단백질, 핵산, 바이러스와 같은 거대분자 관찰.
  Ultramicrotome을 이용 박막시편제조 가능. 화상분석. 기타 사항은 담당자와 상의한다.
이용수가  
분석의뢰수가